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[レポート] 東京ファッション産業機器展 に出展しました!

2017年9月20日(水)~21日(木)に東京ビッグサイトにて開催された「54th FISMA TOKYO(東京ファッション産業機器展)」に出展しました!
会期中は多く方に来場いただき、さまざまな情報交換をいたしました。ISPブースへお越しいただきました皆さん、ありがとうございました!
東京ファッション産業機器展 に出展しました

【ブース展示】
製造業向け外観検査ソフトウェア
「gLupe」

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Deep Learningにより不良品、異常・異物を検出するgLupe(ジールーペ)。最大の特徴は、「少量の正常データのみで学習」が可能なことです。
データ収集のコストを大幅に削減し、スピーディーな導入が実現可能です。
また、正常データのみを学習するアプローチを採用していることにより、未知の異常も検出することが可能です。
ブースでは、衣料品に対する異常検知を実演しました。
「黒い布」に「黒い糸」を使用しての縫製を行い、縫い目の異常(蛇行や、異なる種類の縫い目)を検出します。
糸と布が同色であるため、目視では同色に見えてしまいます。
そこで、株式会社アバールデータの近赤外カメラを使用することで「糸」と「布」を区別し、異常の検出を実現しました。

デモの様子(左)と近赤外カメラでの検出の様子(右)

デモの様子(左)と近赤外カメラでの検出の様子(右)

黒い布に、黒い糸で行った縫製でも、近赤外カメラでなら糸と布を区別することが可能です。

【製品紹介セミナー】
『衣料品外観検査へのAI/Deep Learning適用のご提案』

会期中には、『衣料品外観検査へのAI/Deep Learning適用のご提案』をテーマにミニセミナーを行いました。
Deep Learningの現状をはじめ、製造業へのAI技術の適用や、衣料品分野での活用について議論しました。
セミナーの様子

セミナーの様子

講演資料

講演資料を以下に公開しています。
記事で紹介しきれなかった内容も掲載されています。是非一度ご覧ください。

お問い合わせ

製品、技術、また、展示内容に関するお問い合わせは、以下より受け付けております。
gLupe@isp.co.jp
03-5489-0232
【担当】
村瀬・井上(むらせ・いのうえ)

●関連リンク
システム計画研究所 人工知能事業紹介ページ
システム計画研究所 人工知能プロダクトページ
各種製品・サービスのカタログ ダウンロード
プレスリリース gLupe評価版のバンドル販売開始

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